Unter dem Oberbegriff In-Circuit Test (ICT) werden Technologien zusammengefasst, mit denen elektronische Baugruppen und bestückte Leiterplatten geprüft werden können. Hierbei werden die Prüflinge, nach erfolgter Kontaktierung über spezielle Prüfadapter getestet auf:

• Fehler in der Leiterbahnführung (Kurzschlüsse oder Unterbrechungen)
• Bauteilfehler
• Lötfehler
• Bestückungsfehler

Testplattform KT-8500 "LEON"

Für den In-Circuit-Test bieten wir das System KT-8500 "LEON" an. Damit werden typische In-Circuit Testaufgaben realisiert, z.B. Test von Automotive-Leiterplatten für Steuergeräte oder Sitzheizungsregler, Unterhaltungsgeräte, wie Verstärkerplatinen und Set-Top-Boxen. Insbesondere Automotive-Komponenten verfügen über spezielle Testanforderungen wie genaue Ruhestrommessungen und Automotive-typische Spannungspegel zur Stimulierung und Messung bis zu 42V.

Hier werden oft Kombitester eingesetzt, welche über den In-Circuit Test hinaus weitere Funktionstesteigenschaften besitzen.

Im Kern besteht das System aus mindestens einer Schaltmatrix mit wahlweise 128 oder 172 Kanälen auf vier Bussen, einer 16-Bit Multifunktionskarte zur Stimulierzeugung und Messung der Komponentenkenngrößen sowie einem präzisen Messverstärker mit Guarding-Möglichkeit. Letztere Komponente wurde als 3HE PXI-Karte von uns entwickelt und wird neben dem Einsatz in kompletten Testsystemen auch als Standardprodukt vertrieben. Die Funktionalität umfasst die Messung von:

• Widerstand
• Induktivität
• Kapazität
• Impedanz
• Dioden-Test
• Z-Dioden-Test
• Test von Transistoren

Weitere Eigenschaften der "LEON" Plattform sind:

• Zweidraht- und Vierdraht-Messverfahren
• Schneller Kurzschlusstest 
• Schneller Durchgangstest
• Unlimitierte Anzahl von Guarding-Testpunkten
• Einsatz entweder als manuelle Tester oder als In-Iine System
• Unterstützung von mehreren ICT-Subsystemen in einem Chassis

Zur weiteren Taktzeitsteigerung können mehrere ICT Subsysteme (Schaltmatrix + ICT-Verstärker + ADC-Karte) in einem PXI Chassis parallel betrieben werden. Dadurch und aufgrund der Multithreading-Architektur des Testsequenzers ist es möglich, Platinen im Nutzen parallel zu testen.

Skalierbare Plattform

Die KT-8500 "LEON" Systemplattform stellt eine Familie von Testsystemen dar, die je nach Kundenanforderungen in verschiedenen Systemausbaustufen benutzt werden kann. Je nach benötigter Testpunktanzahl und Ausbaufähigkeit können Sie aus einer von drei Grundkonfigurationen wählen:

• KT-8500 „Little LEON“
• KT-8500 „LEON“
• KT-8500 “LEON-ABex”

Alle drei Varianten bestehen auf der PXI-Plattform, unterscheiden sich jedoch in der Anzahl der verfügbaren Slots für Schaltmatrizen. Bei äußerst niedrigen Einstiegskosten bieten wir die PXI-basierende KT-8500 "Little - LEON" Lösung an. Mit dieser Lösung können bereits sämtliche Merkmale der Konrad-ICT-Plattform benutzt werden, bei maximal 256 Testpunkten pro Chassis.
Die beiden anderen Systemvarianten KT-8500 "LEON", bzw. KT-8500 "LEON-ABex" zeichnen sich vor allem durch signifikant höhere Testpunktanzahl, eine noch höhere Flexibilität in Bezug auf optional zu integrierende Instrumente sowie Signalrouting-Fähigkeiten aus.

Prüflingsschnittstelle

Als Schnittstelle zwischen Testadapter und Tester wurde eine Lösung von Virginia Panel realisiert. Diese G12 Schnittstelle mit den QuadraPaddle Kontaktmodulen zeichnet sich durch hohe Signaldichte und hohe Lebensdauer mit bis zu 20.000 Kontaktierzyklen aus. Darüber hinaus implementieren wir andere Schnittstellen, wie z.B. Pylon, je nach Kundenwunsch.

Funktionstest und AOI auf derselben Plattform

Durch den offenen PXI-Standard werden Anwender in die Lage versetzt auf einer Plattform einen kompletten Systemtest durchzuführen – vom Funktionstest, über AOI bis zum ICT. Getätigte Investitionen rechnen sich kurz- und mittelfristig, da bestehende Tester den geänderten Testanforderungen angepasst werden können.

Für den Funktionstest wurde für die „LEON“-Plattform eine Reihe von Erweiterungsmodulen definiert:

• Automotive-Erweiterung (CAN Bus, LIN, K-Line, MOST und FlexRay)
• Digital Pattern Erweiterung (Generierung und Analyse von 32 Bit breiten Datenwörtern bis 200MHz)
• Kurvenerfassung z.B. mit NI PXI-5152 (100MHz/14Bit)
• High Precision bei gleichzeitiger Isolationsfestigkeit bis 300V. 
• HF (Vector Signal Erzeugung und Erfassung bis 2,7 GHz)
• Realtime Erweiterung (Auslagerung zeitkritischer Prozesse als Subsystem. Auf einer FPGA-Karte können z.B. spezielle Triggerlogiken ablaufen oder spezielle digitale Protokolle implementiert werden)
• Boundary Scan (IEEE 1149.x) von JTAG Technologies
• Flash (Programmierung von EEPROMS, Flash-Speicher) über Flash-Lösungen wie z.B. SofTec Microsystems.

Softwarearchitektur

Der Erfolg einer universellen Testsystemplattform hängt maßgeblich von der Flexibilität und Leistungsfähigkeit der unterstützenden Software ab. Eine wesentliche Schlüsselkomponente der „LEON“ Software ist der verwendete Testsequenzer „TestStand“ von National Instruments. Diese Ablaufsteuerung ermöglicht die sequentielle und parallele Ausführung von Testsequenzen, deren Module in gängigen Programmiersprachen, wie NI LabVIEW oder C/C++ geschrieben werden. Beim Erstellen der Testsequenzen werden diese auf einfache Art und Weise eingebunden und mittels Konfigurations-Panels parametrisiert. Zum Lieferumfang eines Testers gehört immer die komplette Bibliothek „KT-Project“, die eine Vielzahl von derartigen Testschritten umfasst, wie z.B. verschiedene Messgeräte, Analysefunktionen, Schnittstellen zu Datenbanken und ERP-Systemen, Anbindung von Peripheriegeräten, wie Etikettendrucker usw.
 
Sämtliche Testschritte lassen sich interaktiv bedienen, ggf. Debuggen und erlauben den kompletten Zugriff auf alle verwendeten Systemressourcen. Ein ICT Skript ist mittels integrierter Editierhilfen einfach zu erstellen und kann mit optional erhältlichen Werkzeugen der Firma Router Solutions direkt aus den CAD Daten der zu testenden Baugruppe erzeugt werden.
 
Der Betrieb eines ICT/FKT Systems im Produktionsalltag erfordert eine Benutzeroberfläche, die zum einen den Bediener durch den Handhabungsprozess leitet und alle relevanten Parameter zur Verfügung stellt und zum anderen Fehlbedienungen ausschließt. KT-OP ist eine derartige Benutzeroberfläche und kommt standardmäßig bei allen Testern zum Einsatz.
 
Sämtliche Ergebnisse eines Testablaufes werden in einer Ergebnisdatei archiviert, deren Inhalt in entsprechenden Ergebnis-Fenstern betrachtet werden kann. Optional erhältlich ist ein leistungsfähiges Programm zur Suche und Filterung von Ergebnisdateien sowie zur Darstellung von Histogrammen und Berechnung von statistischen Kenngrößen, u.a. cpk und ppk. Damit ist die Berechnung der Messmittelfähigkeit des gesamten Testsystems möglich und erlaubt die Erzeugung von ansprechenden Report-Dateien.

Links und Downloads:

KT-ICT Gen II Guarding-Verstärker

Software KT-ICT

KT-8500 LEON ICT-Testsystem Plattform