KT-7200 "FINN" Protocol Aware Tester
KT-7200 FINN Protocol Aware Tester
Mit dem System KT-7200 "FINN" verfügen wir über eine Testlösung für protokollbasierte Bauteile und damit über eine entsprechende Lösung für den gesamten Lebenszyklus z.B. eines RFID-Tags. Von der Validierung der ersten Bauteile auf Wafern über den Charakterisierungstest, den Produktionstest von gehäusten Bauteilen bis zur Serienproduktion der IC werden die RFID-Chips in einer Produktfamilie getestet. Die Unterstützung der RFID-Produktionskette geht darüber hinaus. Die produktübergreifenden Lösungen bedienen auch den ISO Standard Compliance Test bis hin zur Überprüfung der fertigen TAGs inklusive Antenne.
Um der großen Vielfalt an Testherausforderungen gerecht zu werden, ist eine durchgängige Software unabdingbar. Hier werden dem Ingenieur Werkzeuge an die Hand gegeben, die ihm erlauben, auf einfachste Weise neue Testschritte zu implementieren, Varianten der Testprogramme zu managen und vielfältige Analysen zu betreiben. Für die harten Anforderungen der Serienproduktion sind entsprechende Software-Anbindungen vorgesehen, die ein automatisches Datenmanagement im Hintergrund durchführen. Der Operator wird durch ein speziell auf RFID abgestimmtes Software-Interface ideal in seinen Aufgaben unterstützt.
Eine die ganze Produktionskette übergreifende Software-Bibliothek erlaubt es, einmal definierte Testinhalte in jedem Testumfeld weiter zu verwenden und reduziert damit drastisch die Produkteinführungszeiten. Dieses Beispiel zeigt die Stärken der flexiblen Software-Architektur. Mit ihr kann sowohl ein protokollbasierter Test, wie er beispielsweise in der Fertigung der gehäusten RFID-Chips vorkommt, einfach implementiert werden, als auch die Analyse der Übertragungscharakteristika der Luftschnittstelle auf einfach Art durchgeführt werden. Gleichzeitig kann mit herkömmlichen Testbeschreibungen in Form von Pattern des Digital- und Analog-Tests gearbeitet werden.
Wir bieten neben der Testsystem-Hardware und Software sämtliche Adaptierungen an. Egal an welches Handhabungssystem oder welcher firmenweiten Infrastruktur ein Testsystem eingepasst werden soll, wir bieten Ihnen mit unserem reichhaltigen Erfahrungsschatz die beste Unterstützung an. Ebenfalls erhalten sie in der kontaktbehafteten oder nicht kontaktbehafteten Kontaktierung Unterstützung.
Anwendungsbeispiel RFID-Test
Beispielhaft soll im Folgenden eine RFID-Lösung aufgezeigt werden. Gebräuchlich sind drei verschiedene Frequenzbereiche die in verschiedenen ISO/IEC Normen ihre Kommunikation und physikalische Schnittstelle definiert haben. Für den UHF-Bereich soll die EPC-II Global Spezifikation angeführt werden. HF mit 13,56MHz wird etwa aus den populären ISO 14443 und 15693 bedient. Im LF-Bereich ist die ISO 11785 weit verbreitet.
Typischerweise werden in der RFID-Lösung die Kodierung und Fehlerüberprüfung durch CRC oder Parity in der Informationsaufarbeitung durchgeführt. Die Modulation und Digitalisierung realisieren Frontends welche für die verschiedenen Frequenzbereiche zur Verfügung stehen. Um einen parallelen Test frei zu skalieren, erlaubt die Systemarchitektur sowohl die Bestückung mit mehreren Instrumenten des gleichen Typs als auch eine Mischbestückung. Dadurch können reinrassige hochparallele Testsysteme realisiert werden.
Systemarchitektur
Die gesamten Instrumente sind in einem ABex®-System integriert – einer offenen PXI-Systemerweiterung, entwickelt von Konrad Technologies. Dieses langlebige und Platz sparende Mainframe wird mit einer vielseitigen und zuverlässigen Prüflingsschnittstelle ausgerüstet, die für die Massenproduktion ausgelegt ist. Anwender können das System über komfortable Software-Tools an geänderte Produktionsbedingungen anpassen, bzw. Produkt-Parameter selbstständig editieren.
Instrumente
Konrad Technologies bietet für die Plattform KT-7000 "FINN" Standard-Instrumente an, mit denen gängige protokollbasierte Testaufgaben abgebildet werden können. Alle Instrumente sind universell einsetzbar, z.B. im Bereich RFID, Smartcard-Test, schlüssellose Zugangssysteme, E-Passport, Reifendrucksensoren, Funkschlüsseln, usw. In den Instrumenten wurden neben den Protokoll-basierenden Funktionen auch Debugging-Mechanismen implementiert. Mittels Plug-In Modulen können Funktionserweiterungen, wie Kryptografie-Engines, zur Sicherung des Kunden-IP implementiert werden.
KT-7411 UHF-Instrument |
|
|
Das UHF-Modul KT-7411 arbeitet im Frequenzbereich 800-1000MHz und bedient sich der I/Q (De)Modulation. Durch präzise einstellbare Komperatoren werden im Empfangspfad die quasi-digitalen Signale aufgenommen und der Recheneinheit zur Verfügung gestellt. Hauptmerkmale:
Test von:
|
 |
KT-7412 LF-/HF-Instrument |
|
|
Instrument für den Protokollbasierten Test von Prüflingen im LF- und HF-Frequenzbereich (DC-30MHz). Die vier Sende- und Empfangskanäle dieses Moduls können getrennt voneinander betrieben werden. Durch präzise einstellbare Komperatoren werden im Empfangspfad die quasi-digitalen Signale aufgenommen und der Recheneinheit zur Verfügung gestellt. Hauptmerkmale:
Test von:
|
 |
Software Architektur
Für maximale Performance und hohen Bedienungskomfort wurde die Software in einem Mehrstufenmodell entwickelt.
|
Host |
 |
Auf Host-Ebene stehen umfangreiche Werkzeuge zur Konfiguration und Visualisierung zur Verfügung. Dazu gehört als übergeordneter Testsequenzer NI TestStand. Aus dieser Umgebung heraus erfolgt die Festlegung des Hardware-Setups über Panels zur Instrumentenkonfiguration und die sequenzielle Ausführung von Instrumenten-übergreifenden Testszenarien. Bediener im Produktionsumfeld verwenden für die Steuerung des Testers ein komfortables Operator Interface.
Testingenieure haben vollen Zugriff auf alle relevanten Setup-Parameter, wie Zeitverhalten, Pegel, Frequenz, Impedanz und können alle Signalparameter überwachen. Dazu stehen auch entsprechende Konnektoren für externe Scopes zur Verfügung, bzw. über die integrierte Backplane kann ein PXI-Digitizer verwendet werden.
Sämtliche Protokolldetails können selbstständig kodiert werden (z.B. Manchester). Dazu gehören Festlegung von Prä- und Postambel mittels Symbolen, freie Definition von Tastverhältnis und Symbollänge und diverse Fehlerüberprüfungsmechanismen (z.B. CRC). Mittels Shmoo-Plots können beliebige Signalparameter visualisiert werden.
Links und Downloads:
Broschüre KT-7200 FINN Protokoll-basiertes Testsystem
Datenblatt KT-7411 UHF-Instrument
Datenblatt KT-7412 LF-/HF-Datenblatt
Artikel "Protokollbasierter Halbleitertest" - entnommen aus Tagungsband zum Kongress VIP 2008 - Virtuelle Instrumente in der Praxis - Prämiert mit Best Paper Award, Hüthig-Verlag 2008
Artikel Testlösungen aus Productronic 4-2008, Hüthig-Verlag
