Die Software KT-ICT (KT In-Circuit Test) wird Ihnen immer dann mitgeliefert, wenn Sie einen ICT-Guarding Verstärker von uns kaufen, bzw. wenn Sie ein ICT-Testsystem unserer Firma beschafft haben. Es stellt sämtliche Funktionen zur Verfügung, um im Rahmen einer Prüfprogrammentwicklung elektronische Bauelemente zu vermessen. Gegenwärtig werden folgende elementare Messfunktionen unterstützt:

• Widerstand 2 Draht und 4 Draht
• Kapazität
• Induktivität
• Impedanz
• Diode
• Transistor
• Zener Diode
• Varistor
• Durchgangstest
• Kurzschlusstest
• Entladefunktion für Kondensatormessung
• GoldCap-Kondensatoren

Die Software ist im Kern als DLL für die Nutzung innerhalb von 32Bit Windows-Betriebssystemen ausgelegt. Basierend auf dieser DLL wird eine Schnittstelle zu NI TestStand zur Verfügung gestellt, sowie Funktionen für die Verwendung in C/C++ sowie in NI LabVIEW. Zu Beginn werden sämtliche Messtechnikressourcen im Rahmen einer Topologie-Datei in Excel beschrieben. Dazu gehören sämtliche Testpunkte, die im Klartext (Nadelbezeichnungen) eingelesen werden können und dann in allen Konfigurationspanels zur Verfügung stehen. Zentrale Konfigurationsoberflächen stehen zur Verfügung für:

1. Einlesen der Topologie-Datei
2. ICT-Initialisierung
3. Matrix-Selbsttest
4. Continuity (Durchgangstest)
5. Short (Kurzschlusstest)
6. ICT-Test (die eigentliche Komponentenvermessung)

Des weiteren stehen eine Reihe von Konfigurationspanels sowie ein "Pin-Finder" Panel zur Unterstützung bei der Prüfadapter-Verdrahtung zur Verfügung. Alle Messergebnisse werden automatisch im Hintergrund im KT Results-Format abgespeichert. Die Ansicht dieser Ergebnisse kann entweder unmittelbar mittels der implementierten Betrachtungsfunktion erfolgen, bzw. mit unserem externen, separat erhältlichen Dateibetrachter und Statistik-Tool KT-STAT erfolgen.

Optional zur manuellen Programmerstellung stehen Ihnen Tools von Router Solutions zur Verarbeitung Ihrer CAD-Daten zur Verfügung, mit denen sich der Prozess der ICT-Programmerzeugung weitestgehend automatisieren lässt. Daneben kann mit der Programmsuite CAMCAD die Testabdeckung berechnet werden (DFT = Design for Testability):