Topnews

ICT/Boundary Scan Seminartour

 

Heutige Elektronikbaugruppen sind geprägt von teilweise extremer Komklexität, hoher Packungsdichte und Funktionalität, bei gleichzeitig gesteigertem Kostendruck. Dementsprechend hat die... 

mehr

 

Neue dynamische Digital I/O Karte für PXI und ABex

 

Dynamische Digital I/O Karte KT-TM-401 - galvanische Isolation, wählbare I/O-Pegel von 0…28V sowie 64 digitale Eingänge und 64 digitale Ausgänge. Typische Applikationen umfassen Funktionstest von Automotive Steuergeräten mit parallelen Patterntests, Test von Geräten in der Luftfahrtindustrie sowie als Non-Return-to-Zero Pinelektronik im Halbleitertest. 

mehr

 

NI-Days 2010 mit Konrad Technologies

 

"Worldwide graphical System Design Conference" 13. Technologie- und Expertenkongress NIDays 2010  Hochkarätige Fachvorträge, enger Dialog mit den Experten und eine begleitende... 

mehr

 

Neu: Funkschlüssel Tester

Lebensdauerprüfsystem für PKW-Funkschlüssel. Paralletest von acht DUTs in Klimakammer. AM oder FM modulierte Signalübertragung.

Neu: Flexibler 19" Drehteller

Drehteller für Montage in 19" Racks oder 12HE Tischgehäusen, kurze Handling-Zeiten, frei programmierbare Kontaktierpositionen, beidseitige Kontaktierung, ohne Druckluft...

Neu: 24 GHz Blind Spot Radar Test

HF-Testsystem für den In-Circuit Test und anschließenden Funktionstest eines Blind-Spot-Radar-Empfangsmoduls für PKW .

Neu: Tester für Großdiesel-ECUs

EOL-Tester für Großdiesel-ECUs mit Einspritzung. Prüfung der Power-Ausgangsstufen unter Last bis 150V, 25A Burst mit HiPex-Hochstrom-Lastmultiplexer.

:: Functional Test
:: In Circuit Test
:: Vision Test
:: RF / HF Test
:: Software Solutions
:: Semiconductor
:: Automotive
:: Aerospace
:: Electronic
:: Industrial
:: Medical
:: Telecomunication
Konrad-GmbH | Fritz-Reichle-Ring 12 | D-78315 Radolfzell | Tel: +49(0)7732 / 9815-0 | Fax: +49(0)7732 / 9815-104 | e-Mail: | Impressum