Topnews

ICT/Boundary Scan Seminartour

 

Heutige Elektronikbaugruppen sind geprägt von teilweise extremer Komklexität, hoher Packungsdichte und Funktionalität, bei gleichzeitig gesteigertem Kostendruck. Dementsprechend hat die... 

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Neue dynamische Digital I/O Karte für PXI und ABex

  

Dynamische Digital I/O Karte KT-TM-401 - galvanische Isolation, wählbare I/O-Pegel von 0…28V sowie 64 digitale Eingänge und 64 digitale Ausgänge. Typische Applikationen umfassen Funktionstest von Automotive Steuergeräten mit parallelen Patterntests, Test von Geräten in der Luftfahrtindustrie sowie als Non-Return-to-Zero Pinelektronik im Halbleitertest. 

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NI-Days 2010 mit Konrad Technologies

  

"Worldwide graphical System Design Conference" 13. Technologie- und Expertenkongress NIDays 2010  Hochkarätige Fachvorträge, enger Dialog mit den Experten und eine begleitende... 

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Neu: Funkschlüssel Tester

Lebensdauerprüfsystem für PKW-Funkschlüssel. Paralletest von acht DUTs in Klimakammer. AM oder FM modulierte Signalübertragung.

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Neu: Flexibler 19" Drehteller

Drehteller für Montage in 19" Racks oder 12HE Tischgehäusen, kurze Handling-Zeiten, frei programmierbare Kontaktierpositionen, beidseitige Kontaktierung, ohne Druckluft...

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Neu: 24 GHz Blind Spot Radar Test

HF-Testsystem für den In-Circuit Test und anschließenden Funktionstest eines Blind-Spot-Radar-Empfangsmoduls für PKW .

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Neu: Tester für Großdiesel-ECUs

EOL-Tester für Großdiesel-ECUs mit Einspritzung. Prüfung der Power-Ausgangsstufen unter Last bis 150V, 25A Burst mit HiPex-Hochstrom-Lastmultiplexer.

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