Unter dem Motto "Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich Automatisierter Testsysteme" fand am 12. Mai 2011, veranstaltet von Konrad Technologies und National Instruments, der zehnte ATE-Technologietag statt. In der Stadthalle Sindelfingen kamen ca. 150 Teilnehmer zusammen, um über aktuelle Themen aus dem ATE-Umfeld zu diskutieren. Das Konferenzprogramm umfasste in zwei parallelen Vortragsreihen Beiträge zu den Themen Funktionstest, In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test, HF-Test und Halbleitertest.

In der abschließenden Podiumsdiskussion, die in bewährter Weise souverän von Hilmar Beine, Redakteur Productronic (Hüthig-Verlag) moderiert wurde, diskutierten führende Vertreter von Konrad Technologies, National Instruments sowie Noffz Computersysteme über das Thema "Gesamtkostenoptimierung durch Ausnutzung von Synergien unterschiedlicher Testphilosophien".

Modulare und universelle Testkonzepte, wie die ABex-Plattform von Konrad Technologies nehmen eine immer wichtigere Stellung am Markt ein. So basiert z.B. das neueste Mixed-Signal-Testsystem KT-7500 Finn in wesentlichen Teilen auf Standardkomponenten vom Markt, wie PXI-Instrumenten und FPGA-Karten und wird mit dem entsprechenden Applikations-Know-How von Konrad hinsichtlich Docking-Lösungen und Realtime-Anforderungen an die Anforderungen im Halbleitertest angepasst. In der vorgestellten ABex-Systemallianz werden Partner und interessierte Drittfirmen eingeladen, gemeinsam mit Konrad Technologies an der Weiterentwicklung der offenen PXI-Erweiterung ABex zu arbeiten.

Links und Downloads

www.abexstandard.org

Konrad Präsentationen des Technologietages

Webseite ATE-Technologietag 2011